标准号：JB/T 8268-1999
实施状态：已作废
中文名称：静电复印感光体表面缺陷 测量方法
英文名称：Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process
实施日期：2000-01-01
作废日期：2015-10-01
被替代标准：JB/T 8268-2015
代替标准：JB 8268-1995
归口单位：天津复印技术研究所
起草单位：天津复印技术研究所
标准简介：本标准规定了静电复印感光体表面缺陷的测量方法,测量步骤、检验规则及试验报告的要求。本标准适用于静电复印感光体(硒鼓、硫化辐鼓、有机光导体鼓、无定形硅鼓,氧化锌版等〕的外观质量及背景印迹检查,对静电复印机用反射镜的表面缺陷检查亦应参照使用。
文件格式：PDF
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文件页数：5
（以上信息更新时间为：2019-11-18）
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