[电子] SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法

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查看5880 | 回复3 | 2016-1-15 10:03 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ/T 2749-2016
实施状态:现行
中文名称:半导体激光二极管测试方法
英文名称:Measuring methods for semiconductor laser diodes
发布日期:2016-01-15
实施日期:2016-06-01
代替标准:SJ/T 2749-1987
归口单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位:中国科学院半导体研究所
标准简介:本标准规定了半导体激光二极管的光学、电学和热学参数的测试方法。本标准适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管(以下简称“激光二极管”)。
文件格式:PDF
文件大小:8.26MB
文件页数:35
(以上信息更新时间为:2019-03-28)

标准全文下载:
SJ_T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法.pdf (8.26 MB)

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