[电子] SJ/T 11030-2015 电子器件用金铜及金镍钎料中杂质铅、锌、磷的ICP-AES测定方法

[复制链接]
查看10079 | 回复5 | 2015-10-6 01:23 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ/T 11030-2015
实施状态:现行
中文名称:电子器件用金铜及金镍钎料中杂质铅、锌、磷的ICP-AES测定方法
英文名称:Test method for lead, phosphorus and zinc in gold copper and gold nickel brazing for electron device by ICP-AES
发布日期:2015-10-10
实施日期:2016-04-01
代替标准:SJ/T 11030-1996;SJ/T 11031-1996;SJ/T 11032-1996
归口单位:全国印制电路标准化技术委员会
起草单位:信息产业专用材料质量监督检验中心
标准简介:本标准规定了用ICP-AES测定铅、磷、锌的测试方法。本标准适用于电子器件用金铜及金镍钎料中铅、锌、磷的测定,测定范围(质量分数):铅0.0005%~0.006%,磷0.0002%~0.002 %,锌0.001%~0.008%。
文件格式:PDF
文件大小:5.09MB
文件页数:9
(以上信息更新时间为:2019-03-29)

标准全文下载:
SJ_T 11030-2015 电子器件用金铜及金镍钎料中杂质铅、锌、磷的ICP-AES测定方法.pdf (5.09 MB)

使用道具 举报