标准号：SJ/T 11632-2016
实施状态：现行
中文名称：太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
英文名称：Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所
标准简介：本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）微裂纹缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。
文件格式：PDF
文件大小：4.13MB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-03-27）
标准全文下载：
SJ_T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法.pdf
(4.13 MB)
|
|
