[国际标准化组织] ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

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标准号:ISO 21270-2004
实施状态:现行
中文名称:表面化学分析  X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
英文名称:Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
发布日期:2004-06
代替标准:ISO/DIS 21270-2002
采用标准:BS ISO 21270-2005,IDT;GB/T 21006-2007,IDT;KS D ISO 21270-2005,IDT
起草单位:ISO/TC 201
标准简介:本标准规定了两种方法,用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法,以便那些谱仪可使用更高的最大计数率,对于这些谱仪相关的
校正公式已被证明是有效的。
文件格式:PDF
文件大小:1.25MB
文件页数:15
(以上信息更新时间为:2019-11-22)

ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性.pdf (1.25 MB)

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