标准号：IEC 60747-8-2-1993
实施状态：现行
中文名称：半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第2节:外壳额定功率放大场效应晶体管空白详细规范
英文名称：Semicoductor devices; discrete devices; part 8: field-effect transistors; section 2: blank detail specification for field-effect transistors for case-rated power amplifier applications
发布日期：1993-02
采用标准：BS QC 750106-1993,IDT
起草单位：IEC/TC 47
标准简介：The IEC quality assessment system for electronic components is operated in accordance with the statutes of the IEC and under the authority of the IEC. The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic c
文件格式：PDF
文件大小：1.50MB
文件页数：40
（以上信息更新时间为：2019-11-25）
IEC 60747-8-2-1993 半导体器件 分立器件 第8部分_场效应晶体管 第2节_外壳额定功率放大场效应晶体管空白详细规范.pdf
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