标准号：IEC 60747-10-1991
实施状态：作废
中文名称：半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
英文名称：Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits (Edition 2.0; Includes Amendment 1: 1995, Amendment 2: 1996, and Amendment 3: 08/1996)
发布日期：1991-04
代替标准：IEC 60747-10-1984
采用标准：BS QC 700000-1991,IDT;GB/T 4589.1-2006,IDT;PN-T-01103-1992,IDT
起草单位：IEC/TC 47
标准简介：Defines general procedures for quality assessment to be used in the IECQ System and gives general rules for: - measurement methods of electrical characteristics; - climatic and mechanical tests; - endurance tests.
文件格式：PDF
文件大小：4.71MB
文件页数：104
（以上信息更新时间为：2019-11-25）
IEC 60747-10-1991 半导体器件 第10部分_分立器件和集成电路总规范.pdf
(4.71 MB)
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