标准号：IEC 60747-1-1983
实施状态：作废
中文名称：半导体器件 分立器件 第1部分:总则
英文名称：Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 : General
发布日期：1983
被替代标准：IEC 60747-1-2006
代替标准：IEC 60147-0-1966;IEC 60147-0B-1969;IEC 60147-0C-1973;IEC 60147-0D-1974;IEC 60147-0E-1979;IEC 60147-0F-1982;IEC 60147-1-1972;IEC 60147-1F-1973;IEC 60147-1G-1975;IEC 60147-1H-1981;IEC 60147-1J-1981;IEC 60147-2-1963;IEC 60147-2B-1970;IEC 60147-2C-1970;IEC 60147-2F-1974;IEC 60147-2K-1978;IEC 60147-2M-1980;IEC 60147-3-1970;IEC 60147-3A-1973;IEC 60147-4-1976
采用标准：DIN IEC 60747-1-1987,IDT;BS 6493-1.1-1984,IDT;NF C96-001-1984,IDT;SEV-ASE 3608-1-1987,IDT;GOST 20859.1-1989,MOD;GOST 28578-1990,MOD;GOST 28624-1990,MOD;GOST 29106-1991,MOD;GOST 29107-1991,MOD;GOST 29108-1991,MOD;GOST 29209-1991,MOD;GOST 29210-1991,MOD;DS/IEC 747-1-1985,IDT;NEN 10747-1-1984,IDT
起草单位：IEC/TC 47
标准简介：Describes purpose, presentation and requirements on the contents of IEC Publications 747-2, 747-3 etc., deals with terminology, letter symbols, essential ratings and characteristics, general and reference measuring methods, acceptance and reliability of
文件格式：PDF
文件大小：33.90MB
文件页数：316
（以上信息更新时间为：2019-11-25）
IEC 60747-1-1983 半导体器件 分立器件 第1部分_总则.pdf
(33.9 MB)
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