[电子] SJ 20884-2003 相控阵天线测试方法

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查看5262 | 回复4 | 2011-3-19 12:23 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 20884-2003
实施状态:现行
中文名称:相控阵天线测试方法
英文名称:Testing method for phased array antenna
组织分类:SJ
中标分类:M51
ICS分类:33.120.40
标准分类:QT
发布日期:2003-12-15
实施日期:2004-03-01
归口单位:信息产业部电子第四研究所
起草单位:中国电子科技集团公司第十四研究所
范围:本标准规定了相控阵天线方向图、增益等的测试原理、测试方法和测试步骤。本标准适用于相控阵天线的测试。
文件格式:PDF
文件大小:654.95KB
文件页数:17
(以上信息更新时间为:2019-04-22)

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SJ 20884-2003 相控阵天线测试方法.pdf (654.95 KB)

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