JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

显示全部楼层 · 2015-4-26 18:56

标准号：JB/T 8268-2015
实施状态：现行
中文名称：静电复印光导体表面缺陷测量方法
英文名称：Test method of surface defect for photoconductor of
electrostatic copying process
组织分类：JB
中标分类：N47
ICS分类：37.100.10
标准分类：QT
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
作废日期： - -
代替标准：JB/T 8268-1999
归口单位：全国复印机械标准化技术委员会
起草单位：天津复印技术研究所
范围：本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
文件格式：PDF
文件大小：270.98KB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-03-31）

标准全文下载：

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JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

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