标准号：SJ/T 2214-2015
实施状态：现行
中文名称：半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
英文名称：Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
组织分类：SJ
中标分类：L54
ICS分类：31.080
标准分类：QT
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
作废日期： - -
代替标准：SJ 2214.1-1982;SJ 2214.2-1982;SJ 2214.3-1982;SJ 2214.4-1982;SJ 2214.5-1982;SJ 2214.6-1982;SJ 2214.7-1982;SJ 2214.8-1982;SJ 2214.9-1982;SJ 2214.10-1982
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所
范围：本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称"器件")光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
文件格式：PDF
文件大小：3.92MB
文件页数：25
（以上信息更新时间为：2019-03-31）
标准全文下载：
SJ_T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法.pdf
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