标准号：SJ/T 2354-2015
实施状态：现行
中文名称：PIN、雪崩光电二极管测试方法
英文名称：Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
组织分类：SJ
中标分类：L54
ICS分类：31.180
标准分类：QT
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
代替标准：SJ 2354.1-1983;SJ 2354.2-1983;SJ 2354.3-1983;SJ 2354.4-1983;SJ 2354.5-1983;SJ 2354.6-1983;SJ 2354.7-1983;SJ 2354.8-1983;SJ 2354.9-1983;SJ 2354.10-1983;SJ 2354.11-1983;SJ 2354.12-1983;SJ 2354.13-1983;SJ 2354.14-1983
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所
范围：本标准规定了PIN、雪崩光电二极管(以下简称"二极管")光电参数的测试方法。
文件格式：PDF
文件大小：4.94MB
文件页数：32
（以上信息更新时间为：2019-03-31）
标准全文下载：
SJ_T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法.pdf
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