SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

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标准号:SJ/T 11705-2018
实施状态:现行
中文名称:微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
组织分类:SJ
标准分类:QT
发布日期:2018-02-09
实施日期:2018-04-01
文件格式:PDF
文件大小:4.77MB
文件页数:8
(以上信息更新时间为:2019-03-21)

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SJ_T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法.pdf (4.77 MB)

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