SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

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查看7377 | 回复5 | 2010-11-17 10:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ/T 10805-2000
实施状态:已作废
中文名称:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
英文名称:Semiconductor interface integrated circuits General principles of measuring methods for voltage comparators
组织分类:SJ
中标分类:L55
ICS分类:31.100
标准分类:QT
发布日期:2000-12-28
实施日期:2001-03-01
作废日期:2018-04-01
被替代标准:SJ/T 10805-2018
代替标准:SJ/T 10805-1996
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:中国电子技术标准化研究所
范围:本规范规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
文件格式:PDF
文件大小:4.49MB
文件页数:31
(以上信息更新时间为:2019-04-28)

标准全文下载:
SJ_T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理.pdf (4.49 MB)

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