标准号：SJ 20788-2000
实施状态：现行
中文名称：半导体二极管热阻抗测试方法
英文名称：Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes
组织分类：SJ
中标分类：L41
标准分类：QT
发布日期：2000-10-20
实施日期：2000-10-20
被替代标准：
代替标准：
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国电子技术标准化研究所
范围：本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻和瞬态热阻扰的测试。
文件格式：PDF
文件大小：2.72MB
文件页数：13
（以上信息更新时间为：2019-04-28）
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SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法.pdf
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