[电子] SJ 20515-1995 金电镀层薄层电阻测试方法

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查看2753 | 回复6 | 2011-2-17 07:38 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 20515-1995
实施状态:现行
中文名称:金电镀层薄层电阻测试方法
英文名称:Test method for sheet resistance of gold plating layer
组织分类:SJ
中标分类:A29
标准分类:QT
发布日期:1995-05-25
实施日期:1995-12-01
被替代标准:
代替标准:
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:电子工业部七六一厂
范围:本标准规定了用直排四探针装置测试金电镀曾薄层电阻的原理、方法及计算。本标准适用于测试含金量不低于99.0%的金电镀层的薄层电阻。
文件格式:PDF
文件大小:1.11MB
文件页数:8
(以上信息更新时间为:2019-05-04)

标准全文下载:
SJ 20515-1995 金电镀层薄层电阻测试方法.pdf (1.11 MB)

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