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SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则

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查看1862 | 回复3 | 2010-10-15 10:49 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：SJ 2214.1-1982
实施状态：已作废
中文名称：半导体光敏管测试方法总则
组织分类：SJ
中标分类：L54
标准分类：QT
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
作废日期：2015-10-01
被替代标准：SJ/T 2214-2015
归口单位：无
起草单位：无
范围：本标准适用于光敏器件光电参数的测试。
文件格式：PDF
文件大小：285.67KB
文件页数：2
（以上信息更新时间为：2019-05-12）

标准全文下载：
SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则.pdf (285.67 KB)
221411982, 半导体, 光敏, 测试, 方法

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