麦田学社»首页 › 技术分享 › 技术资料 › SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、 ...

SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法

4180 |

6 | 2010-3-12 22:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：SJ 2215.11-1982
实施状态：已作废
中文名称：半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
组织分类：SJ
中标分类：L54
标准分类：QT
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
作废日期：2015-10-01
被替代标准：SJ/T 2215-2015
归口单位：无
起草单位：无
范围：本标准适用于光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测量。
文件格式：PDF
文件大小：270.68KB
文件页数：2
（以上信息更新时间为：2019-05-12）

标准全文下载：

SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法.pdf (270.68 KB)

2215111982, 半导体, 光耦合器, 耦合器, 脉冲

SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法

相关帖子