标准号：QJ 10004-2008
实施状态：现行
中文名称：宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
英文名称：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
发布日期：2008-02-16
实施日期：2008-06-01
文件格式：PDF
文件大小：1.92MB
文件页数：22
（以上信息更新时间为：2019-04-16）
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QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法.pdf
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